節(jié)能型高低溫低氣壓試驗(yàn)箱
簡(jiǎn)要描述:節(jié)能型高低溫低氣壓試驗(yàn)箱是主要用于航空、航天、電子、國(guó)防、科研和其它工業(yè)部門確定電工的電子科技產(chǎn)品(包括元器件、材料和儀器儀表)。在高低溫低氣壓?jiǎn)雾?xiàng)或同時(shí)作用下,進(jìn)行貯存運(yùn)輸可靠性試驗(yàn),并可同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)試。
- 產(chǎn)品型號(hào):DR-H202
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2024-10-13
- 訪 問(wèn) 量:702
節(jié)能型高低溫低氣壓試驗(yàn)箱是主要用于航空、航天、電子、國(guó)防、科研和其它工業(yè)部門確 定電工的電子科技產(chǎn)品(包括元器件、材料和儀器儀表)。在高低溫低氣壓?jiǎn)雾?xiàng)或 同時(shí)作用下,進(jìn)行貯存運(yùn)輸可靠性試驗(yàn),并可同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)試。
技術(shù)特點(diǎn)
??節(jié)能設(shè)計(jì) 采用 PID+PWM 原理的 VRF(制冷劑流量控制)技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行配備冷控 制 PID 自動(dòng)調(diào)節(jié)技術(shù)(在線性降溫和低溫恒溫過(guò)程中,通過(guò)冷控制 PID 調(diào)節(jié)制冷輸 出量達(dá)到溫度平衡,即制冷不制熱、制熱不制冷的“冷平衡"技術(shù))。 采用該模式的設(shè)計(jì)相較于傳統(tǒng)冷熱平衡模式可節(jié)能 30%以上,具體設(shè)計(jì)方案詳 見(jiàn)第 8.7、8.8 條。
? 壓力控制 設(shè)備壓力控制采用電動(dòng)比例閥,根據(jù)壓力設(shè)定值與測(cè)量值自動(dòng)調(diào)整比例閥開(kāi)度, 以保持壓力穩(wěn)定。 電動(dòng)比例閥可根據(jù)試驗(yàn)需求進(jìn)行壓力線性變化試驗(yàn)。
? 送風(fēng)裝置 設(shè)備出風(fēng)口安裝雙層式可調(diào)百葉窗,可根據(jù) 9 點(diǎn)實(shí)測(cè)的溫度調(diào)整箱內(nèi)風(fēng)量分配, 以實(shí)現(xiàn)較高的溫度均勻度和偏差。
滿足測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B:高溫
GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) M:低氣壓
GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Z/AM:低溫/ 低氣壓
GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Z/BM:高溫/ 低氣壓
GJB 150.2A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 2 部分:低氣壓試驗(yàn)
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 3 部分:高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 4 部分:低溫試驗(yàn)
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10590-2008 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
節(jié)能型高低溫低氣壓試驗(yàn)箱