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HAST高壓加速老化試驗箱定制是一種用于評估非氣密性封裝IC器件、半導體、微電子芯片、磁性材料及其他電子零件在高溫、高濕、高壓環(huán)境下的可靠性的設(shè)備。采用干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤飽和控制等三箱控制模式，滿足國際標準要求 。 。

HAST壽命試驗箱采用7寸真彩觸摸屏操作界面使得設(shè)備操作更為便捷，同時支持USB數(shù)據(jù)下載，便于試驗數(shù)據(jù)的記錄和分析。用于對電子元件、半導體、電路板等進行加速老化測試，以驗證其在惡劣環(huán)境下的性能和穩(wěn)定性。相較于進口設(shè)備，國產(chǎn)HAST實驗箱具有更高的性價比，為中小企業(yè)提供了可靠的測試解決方案。

國產(chǎn)HAST試驗箱是一款高效能的試驗設(shè)備，專為在高濕高溫及高壓環(huán)境下測試材料和產(chǎn)品的耐久性而設(shè)計。它通過模擬氣候條件，加速材料老化過程，幫助研究人員和工程師快速評估產(chǎn)品在實際使用中的可靠性。該設(shè)備采用先進的控制系統(tǒng)，確保溫濕度和壓力的精確調(diào)節(jié)，滿足多樣化的測試需求。其雙層圓弧內(nèi)膽設(shè)計有效避免了試驗過程中的結(jié)露滴水現(xiàn)象，保障了測試結(jié)果的準確性。

hast高壓加速老化試驗箱是一種用于模擬惡劣溫濕度和壓力條件下材料老化的設(shè)備。它廣泛應用于評估電子、汽車、航空航天等行業(yè)中的材料和產(chǎn)品的耐久性。通過在高溫、高濕和高壓的環(huán)境下進行加速老化測試，HAST可以快速預測材料在實際使用中的老化過程，從而幫助改進產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。

HAST試驗箱非飽和度老化試驗機是一種用于評估電子元器件、半導體器件、塑料封裝等在高溫、高濕、高壓條件下的可靠性的試驗設(shè)備。它通過模擬環(huán)境條件來加速產(chǎn)品的老化過程，從而在較短的時間內(nèi)預測產(chǎn)品在正常使用條件下的壽命和可靠性。溫度控制：能夠提供高溫環(huán)境，通常為130℃。濕度控制：可以在非飽和濕度條件下調(diào)節(jié)濕度，模擬不同的濕度環(huán)境。